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產品詳細頁
M-Z幹涉儀

M-Z幹涉儀

  • 產品型號:
  • 更新時間:2020-04-21
  • 產品介紹:M-Z幹涉儀通過比較被測物和參考物的相位(表現為條紋的變化),從而實現被測物的物理量的測量。
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產品介紹

 

M-Z幹涉儀產品說明:

馬赫-曾德幹涉儀屬於一種等光程比較幹涉。通過比較被測物和參考物的相位(表現為條紋的變化),從而實現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德幹涉儀通常用於測量透明介質折射率的微小變化,可用於氣體、液體、透明固體、衝擊波及熱傳導等方麵的研究。

 M-Z幹涉儀技術參數:

參數

最大值

最小值

備注

視場

Φ500mm

Φ50mm

 

幹涉條紋間距

無窮大

0.1mm

 

圖像分析軟件

滿足幹涉條紋背景濾波、二值化、細化與修像、標記、采樣讀數、物理參數計算讀取等功能

成像傳感器

數碼單反相機、高速相機、記錄幹板

光源

532nm激光光源、632.8nm激光光源

其他

係統采用有效的減振方式

 

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