M-Z幹涉儀
- 產品型號：
- 更新時間：2020-04-21
- 產品介紹：M-Z幹涉儀通過比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實現被測物的物理量的測量。
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產品介紹
M-Z幹涉儀產品說明：
馬赫-曾德幹涉儀屬於一種等光程比較幹涉。通過比較被測物和參考物的相位（表現為條紋的變化），從而實現被測物的物理量的測量。馬赫-曾德幹涉儀通常用於測量透明介質折射率的微小變化，可用於氣體、液體、透明固體、衝擊波及熱傳導等方麵的研究。
M-Z幹涉儀技術參數：
參數 | 最大值 | 最小值 | 備注 |
視場 | Φ500mm | Φ50mm | |
幹涉條紋間距 | 無窮大 | 0.1mm | |
圖像分析軟件 | 滿足幹涉條紋背景濾波、二值化、細化與修像、標記、采樣讀數、物理參數計算讀取等功能 | ||
成像傳感器 | 數碼單反相機、高速相機、記錄幹板 | ||
光源 | 532nm激光光源、632.8nm激光光源 | ||
其他 | 係統采用有效的減振方式 | ||
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